Elektronmikroskop

Bred anvendelse

Med ESEM/FEG kan vi undersøge både ledende og ikke ledende materialer, det vil sige metaller, fibre, plast, papir, byggematerialer og farve/lak. Faktisk er det kun fantasien, der sætter grænser. F.eks. kan udstyret også undersøge biologisk materiale som plantefibre, svampe og mikrober. Også fugtige emner som filtre kan undersøges, hvilket er unikt for ESEM-teknologien.

Vi kan tilmed udføre dynamiske undersøgelser som pådrypning af væske på en overflade under varierende tryk og temperatur.

Typiske eksempler på opgaver er

• Optimering af materialevalg
• Undersøgelse og karakterisering af overflader og partikler
• Brudundersøgelse på metal og plast
• Korrosionsopklaring
• Grundstofbestemmelse og grundstoffordeling.

Mere alsidig end traditionelt mikroskop

FORCE Technologys ESEM adskiller sig fra et traditionelt scanning elektron mikroskop ved at kunne

• Arbejde ved varierende temperatur og tryk
• Analysere på fugtige emner
• Analysere ikke-ledende prøver
• Udføre dynamiske test i mikroskopet.

FINST Innovationskonsortium

Strukturer tusinde gange mindre end en hårsbredde, nanostrukturer, vil indgå i mange produkter i nær fremtid – lige fra elektroniske og optiske dele i computere og byers tele-netværk til tekstiler og kreditkort. FINST Innovationskonsortiet vil udvikle og modne måletekniske ydelser og know-how til støtte for danske virksomheders forskning og udvikling inden for nanoteknologi.