Elektronmikroskop

Elektronmikroskop
FORCE Technologys elektronmikronmikroskop.

Unikt elektronmikroskop

FORCE Technology udfører, som den eneste kommercielle udbyder i Norden, markedets mest avancerede undersøgelse af overflader. 

Undersøgelserne foregår ved hjælp af vores elektronmikroskop, der benytter den såkaldte ESEM/FEG-teknologi (Envi-ronmental Scanning Electron Microscopy/Field Emission Gun).

Elektronmikroskopet giver virksomheder, som skal udvikle materialer og produkter, mulighed for at teste og optimere parametre som slid- og vedhæftningsforhold, korrosions-beskyttelse, styrke og finish.

 

Elektronmikroskopets brede anvendelse

Med elektronmikroskopet kan vi undersøge både ledende og ikke ledende materialer med ESEM/FEG. Det vil sige metaller, fibre, plast, papir, byggematerialer og farve/lak. Elektronmikroskopet kan også undersøge biologisk materiale som plantefibre, svampe og mikrober. Fugtige emner som filtre kan ligeledes undersøges, hvilket er unikt for ESEM-teknologien. Faktisk er det kun fantasien, der sætter grænser for elektronmikroskopets anvendelse.

Vi kan tilmed udføre dynamiske undersøgelser som pådrypning af væske på en overflade under varierende tryk og temperatur.

Typiske eksempler på undersøgelser foretaget med elektronmikroskopet er:

  • Optimering af materialevalg
  • Undersøgelse og karakterisering af overflader og partikler
  • Brudundersøgelse på metal og plast
  • Korrosionsopklaring
  • Grundstofbestemmelse og grundstoffordeling.

Mere alsidigt end traditionelt mikroskop

FORCE Technologys ESEM Elektronmikroskop adskiller sig fra et traditionelt scanning elektronmikroskop ved at have mulighed for at:

  • Arbejde ved varierende temperatur og tryk
  • Analysere på fugtige emner
  • Analysere ikke-ledende prøver
  • Udføre dynamiske test i mikroskopet.

FINST Innovationskonsortium

Strukturer tusinde gange mindre end en hårsbredde, nanostrukturer, vil indgå i mange produkter i nær fremtid – lige fra elektroniske og optiske dele i computere og byers tele-netværk, til tekstiler og kreditkort. FINST Innovationskonsortiet vil udvikle og modne måletekniske ydelser og know-how til støtte for danske virksomheders forskning og udvikling inden for nanoteknologi. 

Kontakt os for yderligere information om elektronmikroskopet og dets anvendelsesmuligheder, eller download vores folder fra højremenuen.

Kontakt os

Ole Bundgaard
Afdelingschef
+45 43 26 75 39
Send besked til Ole
FORCE Technology: Park Allé 345, 2605 Brøndby  Telefon: +45 43 26 70 00  Fax: +45 43 26 70 11  e-mail: info@forcetechnology.com