FORCE Technologys många materialspecialister inom stål och andra metaller, plast och kompositer samt cement och betong är med för att säkra relevanta och kompetenta slutsatser för de många olika typer av analysuppgifter som vi dagligen löser.

Typiska uppgifter är:

• Skadeklarläggning. Som exempel kan nämnas bristningar i metaller och plast där vi i skanningsmikroskopet (SEM) kan fastslå typen av bristning och tillsammans med materialspecialister komma fram till orsaken. Länk till ESEM (öppnas i nytt fönster).
• Med FORCE Technologys senaste och mycket kvalificerade FIB-SEM (focused ion beam scanning electron microscope) är det möjligt att lägga till, ta bort och analysera material på mikro- och nanonivå samtidigt som de kan observeras under högförstorande SEM. Tekniken kan bl.a. användas för att utföra deformationslösa snitt i ytor och därmed exempelvis bestämma skikttjocklek och grundsammansättning av tunna beläggningar på ytor eller tredimensionella strukturanalyser av små partiklar.
• Bestämning och dokumentation av legeringstyper. Är rätt material levererat? Motsvarar legeringen kravspecifikationen? Med OES (optisk emissions spektrometri) kan vi från och med idag leverera auktoriserade analyser av legeringssammansättningar.
• Ytanalyser. Finns det föroreningar på ytan? Hur är ytstrukturen/strävheten?
• Bestämning av grundämnessammansättning. Med vår XRF (röntgenanalys) kan vi bestämma grundämnessammansättningen, kvalitativt och kvantitativt, i pulver, fasta ämnen, vätskor och material med märkliga geometrier. Med denna metod är det exempelvis möjligt att bestämma innehållet av tungmetaller i plast på ganska kort tid.